|
dr Danuta ŻymierskaInstytut Fizyki PAN al. Lotników 32/46 02-668 Warszawa email: zymier(at)ifpan.edu.pl http: www.ifpan.edu.pl |
krótki życiorys naukowy:
Studia magisterskie na Wydziale Matematyki, Fizyki i Chemii Uniwersytetu im. Adama Mickiewicza w Poznaniu, praca magisterska p.t. "Kwantowa teoria fal spinowych w antyferromagnetycznej nadstrukturze fcc-(001)".
Studia doktoranckie w Instytucie Fizyki PAN w Warszawie, praca doktorska p.t. "Temperaturowa zależność rezonansu fal spinowych w ferromagnetykach" (1976).
Instytut Fizyki PAN, Oddział Magnetyków 1971 - 1988.
Universität Duisburg, Republika Federalna Niemiec, pracownik naukowo-dydaktyczny w latach 1981-1982.
Od 1989 roku w Środowiskowym Laboratorium Badań Rentgenowskich i Elektronomikroskopowych Instytutu Fizyki PAN w Warszawie, kierownik Zespołu Badań Realnej Struktury w latach 2000 - 2003.
działalność w Polskim Towarzystwie Promieniowania Synchrotronowego:
członek od 1997 roku;
1999-2002 - członek Komisji Rewizyjnej,
2002-2005 oraz 2005-2008 - sekretarz PTPS.
zainteresowania naukowe:
fizyka promieniowania rentgenowskiego, badania realnej struktury kryształów, w szczególności warstw przypowierzchniowych i defektów poimplantacyjnych, oraz oddziaływania bardzo silnych wiązek promieniowania krótkofalowego z materią.
wybrane prace:
1. D. Żymierska, J. Auleytner, T. Kobiela, and R. Duś "Comparative Study of the Surface Roughness by AFM and GIXR" Phys. Status Solidi (a),180 (2000) 479-485.
2. D. Żymierska, J. Auleytner, J. Choiński, L. Perchuć, K.Godwod, J. Domagała, J. Adamczewska, W. Paszkowicz, and K. Regiński, "Structural Changes Induced by Fast Nitrogen Ions in GaAs Single Crystals" J. Alloys Comp.,328 (2001) 112-118.
3. D. Żymierska, K. Godwod, and J. Auleytner "X-ray diffractometric study of polycrystalline precipitates within a single crystal matrix"J. Phys. D: Appl. Phys.,36 (2003) A202-A204.
4. D. Klinger, J. Auleytner, D. Żymierska, B. Kozankiewicz, L. Nowicki, and A. Stonert "Pulsed laser annealing of Sn-implanted Si single crystal" J. Appl. Phys.,95 (2004) 2331-2336.
5. W. Wierzchowski, K. Wieteska, J. Auleytner, W. Graeff and D. Żymierska "Synchrotron X-ray diffraction studies of silicon implanted with high-energy Ar ions after thermal annealing"J. Alloys Compd.,82 (2004) 146-152.
6. D. Klinger, E. Łusakowska, D. Żymierska "Nano- structure formed by Nanosecond Laser Annealing on Amorphous Si Surface"Mat. Sci. Semi. Mat. (Material Science in Semiconductor Materials),9 (2006) 323-326.
7. D. Klinger, R. Sobierajski, R. Nietubyć, J. Krzywiński, J. Pełka, M. Jurek, D. Żymierska, S. Guizard, H. Merdji, L. Juha "Structural modification of PMMA by single 20-femtosecond pulse" (in print).